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什么是HALT試驗？HALT（HighlyAcceleratedLifeTest）的全稱是高加速壽命試驗。HALT是一種通過施加逐級遞增的環(huán)境應力或工作載荷，來加速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱點的試驗方法。主要應用于產(chǎn)品開發(fā)階段，它能以較短的時間促...
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本期話題芯片被稱為信息產(chǎn)業(yè)的糧食和“大腦”，是信息社會的基石，在信息化、智能化不斷加快的今天，芯片已經(jīng)成為戰(zhàn)略性、基礎性產(chǎn)業(yè)。可以說，芯片作為支撐中國經(jīng)濟持續(xù)高質(zhì)量發(fā)展、特別是支撐戰(zhàn)略性新興產(chǎn)業(yè)崛起，其地位更是難以替代。然而，芯片制造是一項...
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宇宙遍布著各種高能量的輻射粒子，這些粒子會對元器件帶來影響，如何進行抗輻射設計成為了工程師針對邏輯類數(shù)字電路、存儲器以及某些功率器件的一個必要考量。宇宙空間中存在能量高而數(shù)量極低的輻射粒子，這些粒子會造成瞬態(tài)巨大的電離能量沉積。沉積的能量可...
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在汽車“新四化”的浪潮下，現(xiàn)代汽車的電子化程度逐步提高，越來越多的電子控制單元(ECU)加入到汽車的功能控制中，各ECU通過CAN/CANFD等總線技術實現(xiàn)相互通訊，汽車CAN總線網(wǎng)絡變得越來越復雜。各個CAN節(jié)點質(zhì)量良莠不齊，可能會給車輛...
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光纖連接器推動大數(shù)據(jù)時代發(fā)展未來網(wǎng)絡將更加依賴可靠的光連接。近年來，智慧城市、固定寬帶、移動互聯(lián)網(wǎng)和物聯(lián)網(wǎng)等產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展，推動了大數(shù)據(jù)與云計算的快速增長。每天都有海量數(shù)據(jù)產(chǎn)生，需要傳輸、存儲和處理的數(shù)據(jù)呈幾何級數(shù)增加，信息發(fā)展進入了大數(shù)據(jù)...
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客戶需求在推出新產(chǎn)品時，客戶經(jīng)常詢問產(chǎn)品的可使用年限以及如何確保用戶能夠正常使用若干年（如三年以上)。以每天使用10小時為例，產(chǎn)品需要保證三年使用期間內(nèi)11000小時可靠期限。特別是在產(chǎn)品設計、驗證和推廣階段，產(chǎn)品設計方特別關注產(chǎn)品的可靠性...
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